安賽斯FF35 CT多用途高分辨工業(yè)CT系統(tǒng)

產(chǎn)品名稱: 安賽斯FF35 CT多用途高分辨工業(yè)CT系統(tǒng)

產(chǎn)品型號：FF35 CT

應(yīng)用行業(yè): 汽車制造, 微電子, 航空航天, 科研開發(fā), 鑄造, 半導(dǎo)體, 增材制造

缺陷尺寸: <1µm 缺陷, <50µm 缺陷, <1mm 缺陷, >1mm 缺陷

樣品尺寸: 小型, 中型, 大型

運(yùn)行模式: 3D, 2D/3D, 計(jì)量

FF35 CT 亮點(diǎn)

• 單或雙射線管配置，可最大限度提高實(shí)驗(yàn)室微焦點(diǎn)CT應(yīng)用多功能性

• 只需輕觸一個按鈕，即可在數(shù)秒內(nèi)在 225 kV Micro-focus管和190 kV Nano-focus管之間自如切換

• 花崗巖底座操控和溫控，確保精確的結(jié)果

• 通過Geminy軟件平臺進(jìn)行各種CT軌跡和視場 (FoV) 擴(kuò)展，應(yīng)用靈活

• 可選計(jì)量版本，測量精度可達(dá) MPE_SD = 5.9 µm + L/75 [L in mm]

• 提供符合半導(dǎo)體市場標(biāo)準(zhǔn)的 FF35 CT SEMI 版本

• 新產(chǎn)品！最大樣品重量可達(dá) 50 千克 - 也可提供升級服務(wù)

  
  

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可靈活檢測中小型零件

Analysis FF35 CT、FF35 CT Metrology和FF35 CT SEMI 涵蓋了非凡的應(yīng)用范圍。豐富的功能涵蓋了研發(fā)部門的改良材料測試、過程控制和小批量檢驗(yàn)的優(yōu)化，以及各種科學(xué)應(yīng)用。雙X射線管配置幫助高分辨率CT系統(tǒng)大幅擴(kuò)展汽車、電子、航空和材料科學(xué)行業(yè)的質(zhì)量保證和研究的應(yīng)用空間。

成熟驗(yàn)證技術(shù): 225 kV 折射式微焦點(diǎn)射線管

225 kV Analysis 折射式微焦點(diǎn)射線管具有 320 W 高功率和水冷靶材，可在不到一分鐘的時(shí)間內(nèi)完成快速 CT 掃描。2D 檢測時(shí)，射束管空間分辨率為 4 μm。可在單個檢測序列內(nèi)自如切換折射式微焦點(diǎn)射線管和納焦點(diǎn)透射管，大幅擴(kuò)展應(yīng)用范圍。

額外選配: 190 kV 納焦點(diǎn)透射管

對于10 mm 或更小尺寸的零件，分辨率在亞微米范圍內(nèi)的 190 kV 納焦點(diǎn)透射管是理想的解決方案，有助于高分辨率檢查各種樣本：雖然其水冷式放射管頭可實(shí)現(xiàn)快速溫度調(diào)節(jié)并具有焦點(diǎn)穩(wěn)定性，但可通過四種模式基于功率進(jìn)行相應(yīng)的焦點(diǎn)尺寸適配調(diào)整。由于兩根射線管均自備發(fā)生器和高壓電纜，因此無需重新配置即可輕松切換。

各種軌跡最大限度提高靈活性

Geminy直觀的用戶界面上顯示的圖形符號和廣泛的自動化功能，操作簡便，不受操作員技能水平限制。同時(shí)，該軟件還隨附了豐富的功能，可靈活應(yīng)對各類零件尺寸和檢查任務(wù)，包括 HeliExtend（螺旋CT掃描和重建方法）等CT軌跡、水平和垂直視場擴(kuò)展、虛擬旋轉(zhuǎn)軸和標(biāo)準(zhǔn)QuickScan/QualityScan。

 FF35 CT可檢測哪些物體?

• 電子器件，包括SMD

• 涉及新材料或新制造方法的產(chǎn)品，如增材制造零件、纖維增強(qiáng)塑料

• 電池電芯和模組

• 注塑成型塑料

• 微系統(tǒng) (MEMS, MOEMS)

• 醫(yī)療用品，例如插管

• 輕合金鑄件

• 地質(zhì)、古生物和生物樣本

  
  

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FF35 CT 用于哪些應(yīng)用?

• 質(zhì)量保證、材料分析和研究

• 失效與結(jié)構(gòu)分析

• 裝配檢查

• 小批量生產(chǎn)檢驗(yàn)

• 過程控制

• 數(shù)字化

• 無損剖切

  
  

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FF35 CT SEMI: 專為半導(dǎo)體領(lǐng)域應(yīng)用研發(fā)

Analysis FF35 CT SEMI X射線系統(tǒng)是一種創(chuàng)新的多功能高分辨率 CT 系統(tǒng)，用于研發(fā)和質(zhì)量保證領(lǐng)域。這套系統(tǒng)專為半導(dǎo)體相關(guān)行業(yè)檢驗(yàn)應(yīng)用開發(fā)。FF35 CT SEMI 符合 SEMI® 的嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)（包括 SEMI® S2-0818 和 SEMI® S8-0218 危險(xiǎn)和安全標(biāo)準(zhǔn)）并通過了相應(yīng)的認(rèn)證。

使用FF35 CT Metrology測量超精細(xì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)

Analysis FF35 CT Metrology將CT尺寸控制（例如超精細(xì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)測量）的精確度提升至全新維度。一次 CT 掃描近乎捕獲幾乎無限的測量點(diǎn)，不受測量評估結(jié)果影響。無縫缺陷分析和名義值-實(shí)際值比較，節(jié)省時(shí)間并減少產(chǎn)品抽樣校正循環(huán)相關(guān)的校正成本。FF35 CT Metrology符合VDI/VDE 2630 標(biāo)準(zhǔn)。

FF35 CT關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)：

名稱: 高分辨率微焦點(diǎn)CT系統(tǒng) FF35 CT

關(guān)鍵詞：FF35 CT，X射線檢測，微焦點(diǎn)X光機(jī)，無損檢測，射線檢測